Poids de l’Open access dans la production CNRS
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Titre
Characterization of the porosity of silicon nitride thin layers by Electrochemical Impedance Spectroscopy
XX
BSO - Titre
Characterization of the porosity of silicon nitride thin layers by Electrochemical Impedance Spectroscopy
XX
DOI
DOI
10.1016/j.electacta.2017.01.008
XX
DOAI
DOAI
10.1016/j.electacta.2017.01.008
XX
Identifiant WoS
WOS:000394399600001
XX
Accès ouvert
OA - Oui
XX
Source - Accès ouvert
OA - Non
XX
Type d'accès
Archive
XX
Editeur
Elsevier
XX
Source
ELECTROCHIMICA ACTA
XX
ISSN
0013-4686
XX
Type de document
Article
XX
Notoriété
4 - Excellente
XX
CNRS
Oui
XX
CNRS - Institut
INC - Institut de chimie
INP - Institut de physique
XX
uid:/9DCRPL0T
12/10/2021 14:52:36 (latest)
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